3月25日-28日，椭偏测量高级应用研习班在上海科技大学物质科学与技术学院成功举办。本次研习班由SENTECH仪器（德国）有限公司主办，物质学院软纳米平台协办，旨在提高国内学术界与产业界使用椭偏仪的应用水平、分享椭偏测量法的最新进展，研习班吸引了来自国内20余家单位的70余人现场参加。

软纳米平台主任王宏达副教授致欢迎词，并为大家分享了题为“PECVD 与 LPCVD 氮化硅的椭偏光学性质与微热桥法热导率量测”的报告

SENTECH仪器资深应用工程师分享了椭偏测量原理、高级应用的建模等理论知识，为参与的用户实操测样，解答大家的测样问题，受到活动参与者的高度评价。