半导体光电测试低温系统
半导体光电测试低温系统
联系人
高荣
邮箱
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购买日期
2023/04/14
主要规格和技术参数
1. 10K闭循环工作站: (1) 温度范围:10K-325K (2) 温度稳定性:优于±50mK (3) 光学视窗:1.62英寸直径石英/硒化锌 (4) 24个与同轴电缆连接的SMA接口 2. 连续流低温主机: (1) 温度范围:5K-325K (2) 温度稳定性:优于±50mK (3) XYZ三轴平台:2英寸线性Z移动,+/-0.197英寸偏离中心的XY运动 (4) 光学视窗:1.62英寸直径石英/硒化锌 (5) 24个与同轴电缆连接的SMA接口
主要功能及特色
可与光谱仪设备样品仓耦合,实现低温及变温光谱的原位测试。 原位荧光光谱,可测试温度范围为室温-10K; 原位红外光谱,可测试温度范围为室温-5K。
主要附件及配置
闭环氦气循环系统、两通道/四通道温控仪、分子泵组、5KW/8KW循环水冷机