低温CMOS电路与芯片测试系统
低温CMOS电路与芯片测试系统
联系人
孙璐
邮箱
sunlu@shanghaitech.edu.cn
电话
02120685417
购买日期
2024/07/26
主要规格和技术参数
低温测试系统单元 1.系统Base温度:<4.0K 2. 真空漏率:5*10-9Pa.m3/s; 3. 4K-100K 温度可调节 4. 冷量:0.1W @ 4.2k 5. SMA 接口:24 个 6. DC 接口:2x25 个 7. 极低温:两级防辐射冷屏 8. 电噪声隔离
主要功能及特色
主要满足在4K-100K 的环境下对CMOS芯片进行直流和高频特性的测试,包括高速电信号测量、低失真模拟信号输出、低温控制和测量等功能
主要附件及配置
1、4K-100K 温度可调节的低温恒温器,包括24个SMA接口,50个DC接口; 2、500MHz带宽、6.25GSa/s采样率的4通道示波器; 3、20 μVpp to 40 Vpp 输出范围的低失真模拟源;