霍尔测试系统
联系人
刘灰礼, 冯强, 和嘉怡, 王文扬
邮箱
liuhl3@shanghaitech.edu.cn
电话
20684642
购买日期
2022/10/21
主要规格和技术参数
半导体材料电学性质快速测量表征。霍尔迁移率：0.01-10^6cm^2/Vs；电阻范围：10mΩ-1GΩ；电阻率：1*10^-5~10^5Ωcm；载流子浓度：800/cm^3 -8×10^23/cm^3。
主要功能及特色
热电材料、半导体薄膜、有机半导体材料等室温载流子浓度和电导率快速测量与表征。
主要附件及配置
快速霍尔效应测试平台、永磁体探针台。