一、主机系统
1.1 真空腔体,4个三轴直流探针臂,2个光纤探针臂
1.2 系统变温范围:85K~372K,采用连续流降温技术,降温时间小于30分钟
1.3 样品台直径2英寸,平整度优于5微米
二、影像系统
2.1 500万像素彩色CMOS工业相机
2.2 显微镜成像分辨率≤2微米,连续变倍比≥6.5:1
2.3 放大倍数范围:18X~400X。工作距离满足:90-200mm
三、光学部分
3.1 多通道激光器:波长266nm、406nm、520nm、642nm、850nm、980nm、1064nm、1310nm、1550nm;包含对应波段的光纤等夹具,能与测试系统耦合
3.2 信号源:频率5MHz,采样率200MSa/s,双通道,任意波长度8M,垂直分辨率16bit
3.3 示波器:带宽50MHz,4通道,最高采样率:1GSa/s,最大存储深度:24Mpts,最大波形刷新率:30,000wfms/s
四.半导体参数测试仪,Keithley 4200A-SCS
4.1 中功率源IV测量单元2个,电流源输出量程/分辨率:最小: 100nA(量程)/5pA,最大: 100mA(量程)/5μA;电流测试范围/分辨率/偏置:最小:100nA(量程)/100fA/30pA, 最大:100mA (量程)/100nA/3μA;电压源输出电压量程/分辨率:最小: 200mV(量程)/5μV, 最大:200V(量程)/5mV;电压测试范围/分辨率/偏置:最小:200mV(量程)/0.2μV/100μV, 最大:200V(量程)/200μV/3mV
4.2 前置放大单元 (直流源测量单元)2个 ,电流源输出电流/分辨率:最小: 1pA(量程)/1.5fA,电流测试范围/分辨率/偏置:最小:1pA(量程)/10aA/10fA
4.3 电容测试单元,频率范围:1K-10MHz;分辨率:对整个范围为1 kHz