低温光电测试系统
联系人
刘锋昱
邮箱
liufy@shanghaitech.edu.cn
电话
+8617749722103
购买日期
2019/08/15
主要规格和技术参数
温度范围：4.3-350 K
温度稳定性：<20mK
振动稳定性：<15nm
样品台尺寸：195mm×71mm
RF射频信号：<40GHz
光纤孔数：2
主要功能及特色
可用于光电芯片在低温状态下的物理研究
主要附件及配置
控制台
压缩机
位移台控制卡