主要规格和技术参数
X射线光源：Cu靶，陶瓷X光管，电压≤30kV，电流≤10mA
样品台：样品台水平固定，适合测试液体、松散固体、块状固体、薄膜等
测角仪：精度高，角度重现性达±0.0001°，最小步长为0.0001°，可θ、2θ单独驱动，工作模式为θ/θ模式，步进马达 + 光学编码器确保测角仪快速而准确定位。
主要功能及特色
X 射线衍射(XRD)是所有物质，包括从流体、粉末到完整晶体，重要的无损分析工具，是物质结构表征，以性能为导向研制与开发新材料， 宏观表象转移至微观认识,建立新理论和质量控制不可缺少的方法。可广泛应用于半导体和超导、医药、化学与涂层、聚合物、纤维和催化剂、刑事鉴证、环境、地质矿物、金属冶金、陶瓷和新材料（纳米材料、无机非金属、有机高分子、复合材料等）等领域。
主要附件及配置
配置有EVA及Topas分析软件