接触模式（Contact Mode) 轻敲模式（Tapping Mode) 智能扫描模式（ScanAsyst Mode) 峰值力轻敲模式（Peak Force Tapping) 定量纳米力学模式（Peak Force QNM) PF快速力曲线及力谱线（PicoForce) 表面电势显微镜(KPFM)，PF-KPFM 导电显微镜(CAFM)，PF-TUNA 横向力显微镜(LFM)，静电力显微镜(EFM)，磁力显微镜(MFM)，压电等。 完善的电学测量模块：cAFM、PF-TUNA，PF-QNM，及KPFM、PF-KPFM，压电响应等。

扫描探针显微镜(MultiMode VIII AFM)可以在大气及液体环境中快速并准确的观测样品表面微观(纳米及亚微米尺度)三维形貌，能够对样品表面物理化学特性进行研究，分析测试多种材料样品表面的高分辨结构，检测物质微观相互作用力，测量物质微观电学性能，等。结合特定的电学模块配置使用特定的导电探针，可以检测大部分物质材料，包括导电性、表面电势、压电响应、等表面微观电学性能。

1、Scanner-1：XY~125微米，Z~5微米。 2、Scanner-2：XY~10微米，Z~2.5微米。 3、Scanner-3：XY~0.4微米，Z~0.4微米。