Solartron 1260 阻抗/增益-相位分析仪具有宽频率范围、高测量精度和高稳定性的特点，可满足材料、电化学及电子器件等领域对高精度阻抗谱测试的需求。设备频率范围覆盖 10 μHz～32 MHz，频率分辨率可达 0.015 ppm，能够实现从超低频到高频范围内的连续扫描测试，适用于不同时间常数过程的分析。其增益/相位测量精度可达 0.1%、0.1°，测量分辨率可达 0.001 dB、0.01°。 在信号输出方面，设备支持电压模式和电流模式输出。电压模式下，频率不高于 10 MHz 时交流输出范围为 0～3 V rms，高于 10 MHz 时为 0～1 V rms；电流模式下，频率不高于 10 MHz 时交流输出范围为 0～60 mA rms，高于 10 MHz 时为 0～20 mA rms。设备还支持直流偏置输出，电压偏置范围可达 ±40.95 V，电流偏置范围可达 ±100 mA。 在阻抗测试方面，设备支持 2 端、3 端和 4 端测量配置，可测量高于 100 MΩ 的阻抗，适用于高阻材料、介电材料、电化学界面和电子元器件等对象的测试。设备内置多个独立分析通道，可测量电压增益、相位、阻抗模值、实部、虚部、电导、电纳、电容、电感、品质因数、损耗因子等多种参数，为后续等效电路拟合和机理分析提供完整数据基础。设备供电范围为 90～126 V 或 198～252 V，48～65 Hz，功耗约 230 VA，工作温度范围为 0～50 ℃。

该设备用于材料及电化学体系的阻抗谱、增益和相位分析，适用于腐蚀、电池与燃料电池、太阳能电池、生物材料、陶瓷/复合材料及电子器件等研究。采用单正弦相关分析技术，可有效抑制噪声和谐波干扰，测量精度高、频率范围宽，支持 ZPlot 软件进行实验设置、数据采集与分析。

阻抗仪，电脑