半导体器件参数测试仪
半导体器件参数测试仪
联系人
赵英博, 戚乘航
邮箱
电话
购买日期
2025/05/15
主要规格和技术参数
1.宽量程测量能力:支持最高 200 V 电压、1 A 直流电流。 2.高精度测量能力:电流测量精度可达 30 fA,灵敏度可达 0.1 fA。 3.噪声测试带宽:高精度模式最高支持 100 kHz,超低频模式最高支持 40 Hz。 4.噪声测试速度:测试速度小于 10 s/bias,频率分辨率优于 0.5 Hz。 5.内置脉冲测试能力:支持最高 200 V 电压、3 A 脉冲电流,最小脉宽 50 us。 6.内置 C-V 测试能力:支持 200 V / 10 kHz 测试条件,最低可测电容达 20 fF。 7.外置 C-V 测试模块: 高精度型:40 V / 2 MHz; 高带宽型:40 V / 10 MHz。 8.高速时域信号采集能力:最小采样时间小于 1 us,支持 10 万点数据采集。 9.噪声测试最小阻抗:最低支持 500 Ω。 10.噪声测试分辨能力:最低可达 2 × 10⁻²⁸ A²/Hz。 11.噪声测试频率分辨率:高精度模式可达 0.1 Hz,超低频模式可达 0.001 Hz。 12.高精度快速波形发生与测量套件:配备 2 通道,采用 SMA 接口。 13.快速 I-V 测试能力**:支持 ±10 V 电压范围,最大 10 mA 电流。 14.SMU 直通功能:支持 ±25 V 电压输入,最大 100 mA 电流。 15.高速采样能力:采样率最高可达 100 MSa/s,最小推荐脉冲宽度可达 130 ns。
主要功能及特色
FS-Pro 系列内置 LabExpress 测量软件,提供图形化界面和灵活参数配置,支持直流、脉冲、瞬态、电容、噪声及任意波形测试;涵盖 Stress、HCI、BTI、TDDB、GOI 等可靠性测试。软件内置器件测试预设、自定义信号编辑和数据分析功能,支持数据导出及建模软件对接。专业版还可控制探针台和矩阵开关,实现晶圆映射、并行与自动化测试。
主要附件及配置
半导体分析仪,LabExpress 测量软件