半导体塞贝克系数测量仪
半导体塞贝克系数测量仪 预约   送样
联系人
彭敏
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购买日期
2017/08/01
主要规格和技术参数
塞贝克系数描述的是材料在一定温差条件下产生的感应热电电压,单位V/K。 技术参数 1) 温度范围:室温至800摄氏度 2) 测试功能:塞贝克系数测量范围:1至2500 μV/K 准确度± 7%;重复性± 3%; 电导率测量范围:0.01 至 2*105 s/cm 准确度± 5 - 8%;重复性± 3%; 3) 样品形态:块体材料、薄膜 4) 样品尺寸:圆柱形或棱柱形:面宽2 - 5 mm,长度6 - 23 mm; 圆盘状:Φ10 - 25.4 mm 5) 气氛:高纯氦气 6) 温度梯度:0 – 50K(设定值),取决于样品热导率和尺寸 7) 电流电极:采用高纯铂(Pt)制成,提供电阻测量所需的恒定电流
主要功能及特色
可以同时测量塞贝克系数和电阻(电阻率) 可以测量圆柱形或棱柱形的样品,长度6 - 23mm 可以测量薄片状样品 通过程序可以实现自动测量
主要附件及配置
冷却水、机械泵