SQDL（已停用）

膜厚分析系统

膜厚分析系统预约送样

联系人

高珍

邮箱

gaozhen@shanghaitech.edu.cn

电话

021-20684649

购买日期

2017/11/06

主要规格和技术参数

5X物镜光斑50微米；10X物镜光斑25微米；50X物镜光斑5微米。

主要功能及特色

测量样品表面的反射率；测量单层及双层膜的厚度

主要附件及配置