透射电子显微镜指标：  JEOL 兼容  保证透射电镜原有分辨率 扫描探针操纵指标： • 粗调范围：XY 方向 2.5mm, Z 方向 1.5mm • 细调范围：XY 方向 18um, Z 方向 1.5um • 细调分辨率：XY 方向 0.4nm, Z 方向 0.04nm 电学测量指标： • 包含一个电流电压测试单元 • 电流测量范围：1nA-30mA, 9 个量程 • 电压输出范围：普通模式±10V，高压模式±150V • 电流分辨率优于 100fA • 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存

透射电子显微镜原位电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

TEM原位电学探针杆，探针操纵及电学测量控制器，针尖制备工具，配套软件及其他附件。