光谱范围200-2100nm 成像 深紫外到近红外 荧光光谱范围 300-1000nm 采样面积 1-10000um2 光谱分辨率 1-15nm可调 检测器 CCD和InGaAS排列 检测器冷却 热电 扫描时间（全光谱） 4ms

美国CRAIC 20/30 显微分光光度计系统，结合显微学和光谱学的优势，用于微小样品或样品的微小区域的光谱和色度分析，并通过对样品的反射、透射、荧光及偏振光谱测量，完成微量物证分析。具有科研级高分辨探测器（CCD），半导体制冷探测器，增强稳定性；科研级光学接口，高分辨彩色成像系统。最新的操作系统，应用软件使用简单，操作方便。 开创性20/30PVTM系列显微微分光度计为全光谱显微谱学设立了新的标准。具有前沿科技水平的20/30PVTM系列可在样品采样区域进行吸收、透射、反射、荧光以及拉曼等光谱数据采集和成像。光谱范围从紫外到近红外，具有自动化控制的光谱和图像分析软件，拥有自动化、简便性和长时稳定的特性。20/30PVTM系列可应用的领域有工业显微观测、材料科学、法医痕迹鉴证、生物样品分析测试等。 高灵敏度固体阵列探测器使用热电冷却，具有较高的信噪比和长时稳定性。高分辨数字成像系统通过CCD收集经紫外和近红外照射后样品的高分辨彩色图像。完善而强大的软件功能不仅控制显微镜、光度计和数字成像，还能提供先进的分析处理能力，如薄膜厚度测量等。