SQDL（已停用）

可变温磁光克尔成像测量系统

可变温磁光克尔成像测量系统预约送样

联系人

孙璐

邮箱

sunlu@shanghaitech.edu.cn

电话

021-20685417

购买日期

2017/10/10

主要规格和技术参数

可变温区间：4.5K-700K；测试磁场：0-0.5T; 最小分辨率：500nm

主要功能及特色

进行薄膜表面的静态磁畴成像，磁化反转过程成像，以及磁滞回线测量

主要附件及配置

光学物镜：20X，50X，100X；低温选件：4.5K-300K；高温选件：300K-700K；矢量磁铁