收费标准

(一)飞纳电镜(Phenom Pro SEM使用背散射电子探测器,配备有能谱)

细则

校内

校外

仅形貌观察

150/小时(最多5个样,每个样限取5张照片,超出部分另加每张5元)

300/小时(最多5个样,每个样限取5张照片,超出部分另加每张10元)

仅元素分析

EDS元素分析:803个感兴趣点,超过每点加收10

EDS mapping100/面扫区域

EDS元素分析:1503个感兴趣点,超过每点加收10

EDS mapping200/面扫区域

形貌观察和元素分析

SEM:与仅SEM收费相同

EDS元素分析:503个感兴趣点,超过每点加收5

EDS mapping80/面扫区域

SEM:与仅SEM收费相同

EDS元素分析:1003个感兴趣点,超过每点加收5

EDS mapping150/面扫区域

仪器培训

500/

不提供此项服务

自主测试

80/小时

不提供此项服务


(二)高分辨场发射扫描电镜(JSM 7800F Prime SEM具有多种电子探测器,配备有牛津能谱)

细则

校内

校外

SEM观察

400/小时

300/样(每个样限取5张照片,超出部分另加每张15元)

仅元素分析

EDS机时费300/小时

EDS元素分析:1003个感兴趣点,超过每点加收10

EDS mapping100/线,超过加收50/线,150/面扫区域,超过加收100/

EDS元素分析:3003个感兴趣点,超过每点加收50

EDS mapping300/线,超过加收150/线,600/面扫区域,超过加收200/

形貌观察和元素分析

机时费300/

EDS元素分析:1003个感兴趣点,超过每点加收10

EDS mapping100/线,150/面扫区域

SEM:与仅SEM收费相同

EDS元素分析:100/3个感兴趣点,超过每点加收5

EDS mapping150//面扫区域

低真空下SEM观察和元素分析

收费标准为高真空时的1

收费标准为高真空时的1.5

仪器培训

3000/

不提供此项服务

自主测试

200/小时

不提供此项服务

协助测试(限工作时间)

300/小时

不提供此项服务


(三)高分辨透射电镜(JEM 2100 Plus TEM,配备有STEM模式、牛津无窗能谱仪、三维电子衍射和三维重构)

细则

校内

校外

仅图像观察

300//0.5小时,每小时换

样不超过2次,每个样品限取

10张照片,超出10/

600//0.5小时,每小时换

样不超过2次,每个样品限取

10张照片,超出30/

高分辨像和电子衍射

400//0.5小时,每小时换

样不超过2

800//0.5小时,每小时换

样不超过2

STEM

500/样,每个样品限取5张照片,超出20/

1000/样,每个样品限取5张照片,超出50/

元素分析

基本机时费300/小时

EDS元素分析:1003个感兴趣点,超过每点加收30

EDS mapping150/线,超过加收50/线,350/面扫区域,超过加收100/

基本机时费500/小时

EDS元素分析:2003个感兴趣点,超过每点加收50

EDS mapping300/线,超过加收50/线,700/面扫区域,超过加收200/

三维电子衍射

基本机时费300/小时

数据采集600/区域

基本机时费500/小时

数据采集1000/区域

三维重构

基本机时费300/小时

数据采集800/区域

后期处理1000/

基本机时费500/小时

数据采集2400/区域

后期处理3000/

高级数据处理

50/小时自主

100/小时协助

不提供此项服务

仪器培训

5000/

不提供此项服务

自主测试

400/小时

不提供此项服务

协助测试(限工作时间)

500/小时

不提供此项服务


(四)样品前处理

细则

校内

校外

喷金

80/

150/

常规铜网碳支持膜

10/

20/

非常规铜网支持膜(微栅、超薄)

20/

40/

其他金属常规碳支持膜(AuNi

30-50/

60-100/

双联铜网

20/

50/

常温普通截面抛光

100/小时

200/小时

冷冻截面抛光

200/小时

400/小时

常温超薄切片

100/

自测:200/小时

500/

冷冻超薄切片

500/

自测:300/小时

1000/