纳米粒度电位分析仪
纳米粒度电位分析仪 预约
联系人
赵怡瑾
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购买日期
2022/05/20
主要规格和技术参数
经典 90° DLS、非侵入背散射 DLS (NIBS)、多角动态光散射 (MADLS)、静态光散射、粒度范围(直径):0.3 nm - 10 μm、最小样品体积10ul
主要功能及特色
动态光散射 (DLS) :用于测量从0.3 nm 到 15 µm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 (使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 µm ;取决于样品和样品制备) 电泳光散射 (ELS) :测量颗粒和分子的Zeta电位,以显示样品稳定性和/或团聚倾向性 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用,并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据,同时计算速度超过以往的两倍,可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量,实现更具代表性的样品视图 通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题,并针对如何改进结果提供明确的建议 选择 Red Label 型号可用于测定更具挑战性的样品,如蛋白质、表面活性剂溶液和低固含量样品
主要附件及配置