低温光电测试系统
低温光电测试系统
联系人
刘晓平, 袁素珺
邮箱
yuansj@shanghaitech.edu.cn
电话
20684689
购买日期
2019/10/17
主要规格和技术参数
操作台工作温度范围:约5K~475K(用于MW探针时最高温度不超过450K); 温度稳定性:50mK; 操作台探针臂入口:6个; 样品台:1个; CCD变焦系统工作距离:89mm
主要功能及特色
ST-500微型操作探针站提供了一个具备5K~475K温度可调的实验平台,具有良好的温度稳定性,可用于超低温环境下的基础物理研究,特别可以为光芯片等功能器件在低温环境下的性能变化研究提供一个良好的实验环境。
主要附件及配置